반 마이크로 전자 분석 균형

 

반 마이크로 전자 분석 균형

 

 

제품 개요

TOB-CEB 시리즈 반 마이크로 전자 분석 균형은 고급 전자 분석 균형 중 하나에서 정확하고 안정적이며 다기능 및 자동으로 자동이며, 수십만 개의 내장 전자기 힘 센서의 실험실 계량 요구 사항을 충족시키기 위해 고정밀을 기준으로 한 제품의 내장 전자기 힘 센서뿐만 아니라 섬세한 출연을 갖도록 설계되었습니다. 고성능 계량 장치의 민감도를 보장하기 위해, 분석 균형은 스트레치 가능한 작동 디스플레이 터미널을 채택하여 작동 중 균형으로 인한 충격 및 진동을 피합니다.

 

제품 기능

1. 스플릿 구조 설계 및 신축성 작동 디스플레이 터미널은 작동 중에 생성 된 진동을 완화하고 측정의 정확도에 영향을 미치지 않을 수 있습니다.

2. 304SS 무게화에 영향을 미치지 않고 계량 안정성을 보장하기 위해 방 방 방향 링 설계를 갖춘 무게의 계량판.

3. 모든 알루미늄 합금체와베이스는 균형의 안정성을 보장합니다.

4. 손쉬운 작동 및 편리한 판독 값을위한 터치에 민감한 버튼과 고화질 VA LCD 화면의 조합

5. 매우 안정적인 전자기 힘 센서, 빠른 계량, 정확한 판독.

6. 이중 범위를 전환 할 수 있으며 외부 및 내부 교정 모델을 선택할 수 있습니다.

7. 밀도 측정 기능, 피펫 보정 기능, 다목적, 강력한.

고객의 개별 요구를 충족시키기 위해 다양한 장치를 전환, 적기능 시간, 감도 조절 가능, 시간 설정을 전환 할 수 있습니다.

 

제품 모델	토브-CEB1035	토브-CEB2055	토브-CEB105	토브-CEB1055N	토브-CEB2085N	토브-CEB125N
입력 전압	교류220V
빈도	50헤르츠
힘	10W
디스플레이 모드	VA LCD
정확한 레벨	Ⅰ
측정 범위 (g)	0-120/0-31	0-200/0-51	0-100	0-120/0-51	0-200/0-81	0-120
해상도 (MG)	0.1/0.01	0.1/0.01	0.01	0.1/0.01	0.1/0.01	0.01
Tare Range (G)	0-120/0-31	0-200/0-51	0-100	0-120/0-51	0-200/0-81	0-120
선형 오류 (MG)	±0.2/±0.03	±0.2/±0.03	±0.03	±0.2/±0.03	±0.2/±0.03	±0.03
반복성 오류 (MG)	±0.1/±0.03	±0.1/±0.03	±0.03	±0.1/±0.03	±0.1/±0.03	±0.03
정착 시간 (전형적인) (들)	3보다 작거나 동일합니다
계량 장치 (사용자 정의)	G, MG, OZ, CT
계량판 (MM)	φ90
표준 무게 (G)	100			없음 (내부 교정)
RS232 인터페이스	예
순 중량 (kg)	6.28
치수 (L × W × H mm)	403×220×310

 

 

 

 

 

 

인기 탭: 반 마이크로 전자 분석 균형, 공급 업체, 제조업체, 공장, 가격